[发明专利]数字射线检测集成控制系统在审
| 申请号： | 202111100719.9 | 申请日： | 2021-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN113884515A | 公开（公告）日： | 2022-01-04 |
| 发明（设计）人： | 洪海波;王宇斐;戴铮;何军;沈义平;时常鸣 | 申请（专利权）人： | 上海航天精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/18 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 201600*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种数字射线检测集成控制系统，包括：过程控制模块、可视化监控模块、工艺设置模块、图像处理模块和质量管理模块；其中：过程控制模块通过与PLC进行通讯获取设备运行状态数据，可视化监控模块包括检测过程监控和检测结果可视化两个功能；工艺设置模块对检测过程的参数进行设置，图像处理模块对获取的数字图像进行图像校正、对比度调节的预处理，并将处理后的结果上传到评片平台；质量管理模块完成对检测结果的统计以及根据设备状态数据进行预测维护。本发明将数字射线检测过程中涉及的工艺设置、过程控制、可视化监控、图像处理、质量管理等过程集成在一个软件平台，将检测过程集中管控，提高了数字射线检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 射线 检测 集成 控制系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天精密机械研究所，未经上海航天精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111100719.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种智能调整用户界面的方法和装置
- 下一篇：轻量化多自由度金属沉积增材装置
