[发明专利]裕度测试数据标记和预测预期裕度在审
| 申请号： | 202111093154.6 | 申请日： | 2021-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN114252713A | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | S·J·施特里克林;D·S·弗勒利希;M·L·鲍德温;J·辛;陈霖永 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 刘书航;周学斌 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及测试和测量系统，并且更特别地涉及用于在被测电气设备（DUT）上执行高速裕度测试的系统和方法。一种裕度测试仪，包括：被配置为接收适配器的适配器标识符的标识读取器、被配置为通过适配器连接到被测设备的接口、以及被配置为评估被测设备的裕度（诸如电裕度或光裕度）并利用适配器标识符来标记评估的一个或多个处理器。评估裕度可以包括基于预期裕度来评估裕度，所述预期裕度基于适配器标识符来预测或提供。 | ||
| 搜索关键词： | 测试数据 标记 预测 预期 | ||
【主权项】：
暂无信息
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