[发明专利]裕度测试数据标记和预测预期裕度

说明书

本公开涉及测试和测量系统，并且更特别地涉及用于在被测电气设备（DUT）上执行高速裕度测试的系统和方法。一种裕度测试仪，包括：被配置为接收适配器的适配器标识符的标识读取器、被配置为通过适配器连接到被测设备的接口、以及被配置为评估被测设备的裕度（诸如电裕度或光裕度）并利用适配器标识符来标记评估的一个或多个处理器。评估裕度可以包括基于预期裕度来评估裕度，所述预期裕度基于适配器标识符来预测或提供。

优先权

本公开要求保护2020年9月21日提交的题为“MARGIN TEST DATA TAGGING ANDPREDICTIVE EXPECTED MARGINS”的美国临时申请第63/081,265号的权益，该美国临时申请的公开内容以其整体通过引用并入本文。

技术领域

本公开涉及测试和测量系统，并且更特别地涉及用于在被测电气设备（DUT）上执行高速裕度（margin）测试的系统和方法。

背景技术

测试和测量仪器有时通过一个或多个附件或适配器连接到DUT。但是，附件或适配器可能影响从测试和测量仪器传输信号以及将信号传输到测试和测量仪器，这可能引起由测试和测量仪器执行的测试中的错误。附件和适配器也可能仅能够测量一定范围的裕度，从而在测量在该范围之外的裕度时造成潜在的错误。

为了消除附件或适配器的影响，可以从测试结果中去嵌入用于将测试和测量仪器连接到DUT的附件或适配器。然而，对线缆和夹具进行去嵌入的需要测量线缆和夹具并确定去嵌入参数。对于用户而言这可能花费数天来执行，并且容易出错，尤其是在较高的数据速率和频率下。

本公开的示例解决了现有技术的这些和其他缺陷。

附图说明

参考附图，从以下对示例的描述中，本公开的示例的方面、特征和优点将变得显而易见，其中：

图1是根据本公开的示例的裕度测试仪的框图；

图2是根据本公开的一些示例的测试和测量系统的框图；

图3是图示根据本公开的一些示例的测试和测量仪器的过程的流程图。

具体实施方式

裕度测试仪或系统是一种测试和测量仪器，其可以在DUT上执行高速裕度测试，诸如但不限于电裕度测试和光裕度测试。裕度测试仪可以建立DUT的单通道或多通道高速输入/输出链路，以评估单通道或多通道高速输入/输出链路中的每个通道在发射方向或接收方向中的任一个或两个方向上的裕度。

均于2020年1月31日提交的美国专利申请第16/778,249号和美国专利申请第16/778,262号公开了用于在DUT上执行高速裕度测试的系统和方法，所述美国专利申请中的每一个以其整体通过引用并入本文。这样的裕度测试仪对于测试采用多通道通信协议的DUT而言可以是特别有用的，例如，所述多通道通信协议诸如外围组件互连（PCI）Express、通用串行总线（USB）、串行AT连接（SATA）、双数据速率（DDR）或串行连接SCSI （SAS）。

图1是图示根据本公开的一个示例的裕度测试仪100的框图，该裕度测试仪100具有多个接口102，所述多个接口102被配置为例如经由一条或多条线缆连接到至少一个测试夹具，以评估DUT的多通道高速I/O链路在发射和接收方向中的任一个或两个方向上的裕度。

裕度测试仪100包括控制器104和相关联的存储器106，存储器106可以存储控制器104可以读取、使用和/或执行以实行本文描述的功能的指令和其他数据。裕度测试仪100可以包括一定数量的通道，所述通道可以经由接口102连接（例如有线连接）到标准测试夹具、线缆或适配器，以在控制器104的控制下执行裕度测试。裕度测试仪100包括连接到接口102的发射器和/或接收器（未示出）。