[发明专利]坐标测量仪器的正交轴系统的调校方法有效
申请号: | 202111081855.8 | 申请日: | 2021-09-15 |
公开(公告)号: | CN113739700B | 公开(公告)日: | 2023-09-01 |
发明(设计)人: | 陈源;张和君;廖学文;章智伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市中图仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01C15/00 |
代理公司: | 深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙) 44398 | 代理人: | 邱爽 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种坐标测量仪器的正交轴系统的调校方法,包括:测量第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的轴线的垂直误差,若垂直误差不小于第一预设值,基于垂直误差调整第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的相对位置以降低垂直误差,测量第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的轴线的异面误差,若异面误差小于第二预设值,基于垂直误差调整第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的相对位置以降低异面误差,重复调整垂直误差以使垂直误差小于第一预设值,重复调整异面误差以使异面误差小于第二预设值。由此,能够降低坐标测量仪器的正交轴系统的垂直误差和异面误差。 | ||
搜索关键词: | 坐标 测量 仪器 正交 系统 调校 方法 | ||
【主权项】:
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