[发明专利]坐标测量仪器的正交轴系统的调校方法

权利要求书

1.一种坐标测量仪器的正交轴系统的调校方法，所述坐标测量仪器包括具有第一旋转轴的第一旋转装置和设置于所述第一旋转装置并具有第二旋转轴的第二旋转装置，所述第二旋转装置能够围绕所述第一旋转装置旋转，所述正交轴系统由所述第一旋转轴和所述第二旋转轴构成，其特征在于，包括：测量所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线的垂直误差，所述垂直误差反映所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的角度，测量所述垂直误差时，利用与所述第一旋转轴的轴线间隔第一预设距离的第一截面截取所述第二旋转轴以获得第一虚拟截面，旋转所述第一旋转轴以使所述第二旋转轴旋转第一预设角度，利用所述第一截面截取所述第二旋转轴以获得第二虚拟截面，基于所述第一虚拟截面和所述第二虚拟截面的几何中心的位置计算所述垂直误差，若所述垂直误差不小于第一预设值，基于所述垂直误差调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的相对位置以降低所述垂直误差，测量所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线的异面误差，所述异面误差反映所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的距离，测量所述异面误差时，利用与所述第一旋转轴的轴线间隔第二预设距离的第二截面截取所述第二旋转轴以获得第三虚拟截面，旋转所述第一旋转轴以使所述第二旋转轴旋转第一预设角度，利用所述第二截面截取所述第二旋转轴以获得第四虚拟截面，基于所述第三虚拟截面和所述第四虚拟截面的几何中心计算所述异面误差，若所述异面误差不小于第二预设值，基于所述异面误差调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的相对位置以降低所述异面误差，重复调整所述垂直误差以使所述垂直误差小于所述第一预设值，重复调整所述异面误差以使所述异面误差小于所述第二预设值。

2.根据权利要求1所述的调校方法，其特征在于：

获得第三虚拟截面时，所述第二旋转轴与所述第二截面之间具有第二预设角度。

3.根据权利要求1所述的调校方法，其特征在于：

所述第二旋转装置包括第一支承部和第二支承部，所述第二旋转轴可旋转地设置在所述第一支承部与所述第二支承部之间。

4.根据权利要求3所述的调校方法，其特征在于：

所述第二旋转装置还包括设置在所述第一支承部的第一轴承和设置在所述第二支承部的第二轴承，所述第二旋转轴通过所述第一轴承和所述第二轴承安装于所述第二旋转装置。

5.根据权利要求4所述的调校方法，其特征在于：

若所述垂直误差不小于所述第一预设值，调整所述第一轴承与所述第一支承部的相对位置或所述第二轴承与所述第二支承部的相对位置以调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的角度。

6.根据权利要求4所述的调校方法，其特征在于：

若所述异面误差不小于所述第二预设值，调整所述第一轴承与所述第一支承部的相对位置和所述第二轴承与所述第二支承部的相对位置以调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的距离。

7.根据权利要求5或6所述的调校方法，其特征在于：

所述第一轴承包括第一定位螺钉，所述第一定位螺钉配置为将所述第一轴承定位于第一支承部，所述第二轴承包括第二定位螺钉，所述第二定位螺钉配置为将所述第二轴承定位于第二支承部。

8.根据权利要求7所述的调校方法，其特征在于：

调整所述第一轴承与所述第一支承部的相对位置时，松开所述第一定位螺钉并基于所述垂直误差或所述异面误差对所述第一轴承进行调整，并在调整所述第一轴承与所述第一支承部的相对位置后，拧紧所述第一定位螺钉；

调整所述第二轴承与所述第二支承部的相对位置时，松开所述第二定位螺钉并基于所述垂直误差或所述异面误差对所述第二轴承进行调整，并在调整所述第二轴承与所述第二支承部的相对位置后，拧紧所述第二定位螺钉。

9.根据权利要求4所述的调校方法，其特征在于：

当所述垂直误差小于所述第一预设值并且所述异面误差小于所述第二预设值时，对所述第一轴承和所述第二轴承进行固定。

10.根据权利要求3所述的调校方法，其特征在于：

若所述异面误差不小于所述第二预设值，调整所述第二旋转装置与所述第一旋转装置的相对位置以调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的距离。