[发明专利]一种激光跟踪仪平面坐标高精度放样装置及方法有效

专利信息
申请号: 202111067843.X 申请日: 2021-09-13
公开(公告)号: CN113654540B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 陈文军;杨龙;郑亚军;王少明;袁建东;孙国珍;张旭东;张小东 申请(专利权)人: 中国科学院近代物理研究所
主分类号: G01C15/08 分类号: G01C15/08;G01B11/00;G01C9/34
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 刘小娟
地址: 730013 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明涉及一种激光跟踪仪平面坐标高精度放样装置及方法。所述装置包括:基体,其设有靶球支撑部和容纳腔;底座,其设于基体外围,被配置为支撑基体,并与基体在竖向相对位置不变,在水平方向相对位置可变;划点组件,被配置为容纳于容纳腔内;水平调节部分,被配置为在竖向与底座相对位置可调;位置调节机构,包括横向位置调节装置和纵向位置调节装置;水平度显示仪,包括在基体的上表面设置的两个沿长度方向的中心线相互垂直的水平气泡仪,每个水平气泡仪的横向或纵向中心线都不经过另一个水平气泡仪。本发明能够精准刻划放样坐标,提升了粒子加速器使用激光跟踪仪在地面放样点的精度和效率。
搜索关键词: 一种 激光 跟踪 平面 坐标 高精度 装置 方法
【主权项】:
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