[发明专利]背景杂波相似性评估方法及装置有效

专利信息
申请号: 202111066801.4 申请日: 2021-09-13
公开(公告)号: CN113780422B 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 胡利平;李焕敏;刘锦帆;李胜 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G06V10/74 分类号: G06V10/74;G06V20/10;G06V10/764;G06T7/41
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 王文雅
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种背景杂波相似性评估方法及装置,其中方法包括:确定用于评估背景杂波相似性的至少两个特征维度以及确定每一个特征维度分别对应的至少一个评估指标;针对至少两个特征维度对应至少两个评估指标中的每一个评估指标,计算两张待评估SAR图像中每一张待评估SAR图像对应该评估指标的评估参数;根据两张待评估SAR图像对应该评估指标的评估参数,计算该两张待评估SAR图像对应该评估指标的相似性;将计算得到的与至少两个评估指标一一对应的至少两个相似性进行合并处理,得到对两张待评估SAR图像的背景杂波相似性的评估结果。本方案,能够提高评估结果的准确性。
搜索关键词: 背景 相似性 评估 方法 装置
【主权项】:
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