[发明专利]掩模版制造装置在审
申请号: | 202111052413.0 | 申请日: | 2021-09-08 |
公开(公告)号: | CN113655688A | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 叶小龙;侯广杰;黄执祥;谢超 | 申请(专利权)人: | 深圳市龙图光电有限公司 |
主分类号: | G03F1/68 | 分类号: | G03F1/68;B05B17/06 |
代理公司: | 深圳壹舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44331 | 代理人: | 欧志明 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于掩模版制造领域,尤其涉及一种掩模版制造装置,包括:承托结构;第一液体雾化组件,包括第一微粒均布板以及第一液体高频超声雾化器,第二液体雾化组件,包括第二微粒均布板以及第二液体高频超声雾化器,气流引流扩散组件,设有两个,并分别左右设置,气流引流扩散组件包括均流结构以及气流发生装置,均流结构包括上下设置的上均流板和下均流板。本发明能够使得掩模版上下表面同时获得的光学结构层的厚度均匀、密度一致。 | ||
搜索关键词: | 模版 制造 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
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G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备