[发明专利]光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质在审
| 申请号： | 202111008049.8 | 申请日： | 2021-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN115115714A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 大野博司 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G06T7/90 | 分类号： | G06T7/90 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 程晨 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的实施方式涉及光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质。提供能够识别光线方向的光学检查方法。在光学检查方法中，针对将来自物点的光线分离成至少2个不同的独立的波长区域的光线而成像的像点，获取将至少2个不同的独立的波长区域的光线的强度作为独立的轴的色相矢量，从色相矢量获取与来自物点的光线的方向有关的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检查 方法 装置 以及 存储 程序 暂时性 计算机 读取 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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