[发明专利]光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质在审

专利信息
申请号: 202111008049.8 申请日: 2021-08-31
公开(公告)号: CN115115714A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 大野博司 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G06T7/90 分类号: G06T7/90
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 程晨
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 检查 方法 装置 以及 存储 程序 暂时性 计算机 读取 介质
【说明书】:

发明的实施方式涉及光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质。提供能够识别光线方向的光学检查方法。在光学检查方法中,针对将来自物点的光线分离成至少2个不同的独立的波长区域的光线而成像的像点,获取将至少2个不同的独立的波长区域的光线的强度作为独立的轴的色相矢量,从色相矢量获取与来自物点的光线的方向有关的信息。

技术领域

本发明的实施方式涉及光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质。

背景技术

在各种工业中,物体的非接触式的光学检查变得重要。在光学检查中,光线方向的识别在知晓物体信息方面是重要的。以往,有使用被称为色相(hue)的量来识别光线方向的方法。然而,以往使用的色相(hue)是标量的量(也就是说,与多维矢量不同,仅表示大小的量)。将以往的色相特别称为色相标量。

发明内容

在实施方式的光学检查方法中,针对将来自物点的光分离成至少2个不同的独立的波长区域的光而成像的像点,获取将至少2个不同的独立的波长区域的光的强度作为独立的轴的色相矢量,从色相矢量获取与来自物点的光线的方向有关的信息。

实施方式的光学检查装置具备:成像部,进行来自物点的光的成像;色相矢量生成部,使来自物点的光分离成至少2个不同的独立的波长区域的光而通过;图像获取部,获取由通过了色相矢量生成部的至少2个不同的独立的波长区域的光成像的像点;以及处理部,针对像点获取将至少2个不同的独立的波长区域的光的强度作为独立的轴的色相矢量,从色相矢量获取与来自物点的光线的方向有关的信息。

实施方式的非暂时性计算机可读取存储介质存储有光学检查程序。光学检查程序使计算机实施:针对将来自物点的光分离成至少2个不同的独立的波长区域的光而成像的像点,获取将至少2个不同的独立的波长区域的光的强度作为独立的轴的色相矢量的处理;以及从色相矢量获取与来自物点的光线的方向有关的信息的处理。

根据上述结构的光学检查方法、光学检查装置以及存储有光学检查程序的非暂时性计算机可读取存储介质,能够识别光线方向。

附图说明

图1是示出第1实施方式所涉及的光学检查装置的概略结构的侧视图。

图2是示出由色相矢量生成部分离的光的波长区域的例子的图形。

图3是示出色相矢量空间中的色相矢量的图形。

图4是在第1实施方式所涉及的光学检查方法中示出处理部的处理的流程图。

图5是示出第2实施方式所涉及的光学检查装置的概略结构的侧视图。

图6是示出第3实施方式所涉及的光学检查装置的概略结构的侧视图。

图7是示出第3实施方式所涉及的光线方向选择部的概略结构的俯视图。

图8是示出第3实施方式所涉及的光线方向选择部的变形例的概略结构的俯视图。

图9是示出第4实施方式所涉及的光学检查装置的概略结构的立体图。

符号说明

10:光学检查装置;20:成像部;30:色相矢量生成部;31、32:选择区域;40、40a、40b:图像获取部;41:像素;50:处理部;60:光线方向选择部;61、62、63:选择区域;70:2板式相机;80:3板式相机;90:投影仪照明部;100:照射场;101、102、103:区域;L1、L2、L3:光线;OA:光轴;Lp:直线。

具体实施方式

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