[发明专利]一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法及系统在审
| 申请号： | 202110992241.9 | 申请日： | 2021-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN113687217A | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 范敏;任继远;彭东 | 申请（专利权）人： | 范敏 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 厦门原创专利事务所(普通合伙) 35101 | 代理人： | 黄巧香 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供的一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法及系统，涉及芯片检测技术领域。在本发明中，基于获取的多条芯片运行数据进行筛选处理得到对应的第一运行数据筛选集合和第二运行数据筛选集合，其中，每一条芯片运行数据用于表征在一个时间段内目标芯片是否处于运行状态；对第一运行数据筛选集合包括的芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第一运行特征信息，并对第二运行数据筛选集合包括的芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第二运行特征信息；基于第一运行特征信息和第二运行特征信息对目标芯片的使用寿命进行预测得到对应的寿命预测结果。如此，可以提高对芯片的使用寿命预测的可靠度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 芯片 检测 寿命 预测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于范敏，未经范敏许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110992241.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
