[发明专利]一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法及系统

说明书

本发明提供的一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法及系统，涉及芯片检测技术领域。在本发明中，基于获取的多条芯片运行数据进行筛选处理得到对应的第一运行数据筛选集合和第二运行数据筛选集合，其中，每一条芯片运行数据用于表征在一个时间段内目标芯片是否处于运行状态；对第一运行数据筛选集合包括的芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第一运行特征信息，并对第二运行数据筛选集合包括的芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第二运行特征信息；基于第一运行特征信息和第二运行特征信息对目标芯片的使用寿命进行预测得到对应的寿命预测结果。如此，可以提高对芯片的使用寿命预测的可靠度。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，具体而言，涉及一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法及系统。

背景技术

芯片，又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(英语：integrated circuit,IC)，是指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他电子设备的一部分。其中，由于体积小等优势，使得其具有较大的应用场景，如手机、电脑等电子设备。

其中，在芯片的应用中，通过对芯片进行数据采集可以得到对应的芯片运行数据，以加以利用，如预测使用寿命。其中，经发明人研究发现，现有技术中，一般都是通过计算芯片的总的运行时间来预测使用寿命，如总的运行时间越长，剩余的使用寿命越短，总的运行时间越段，剩余的使用寿命越长。如此，可能会导致预测得到的使用寿命的可靠度不高的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法及系统，以提高对芯片的使用寿命预测的可靠度。

为实现上述目的，本发明实施例采用如下技术方案：

一种基于芯片检测的芯片寿命预测方法，应用于检测数据处理设备，所述检测数据处理设备通信连接有目标用户终端设备，所述目标用户终端设备具有目标芯片，所述芯片寿命预测方法包括：

基于获取的所述目标芯片在所述目标用户终端设备上运行的多条芯片运行数据进行筛选处理，得到对应的第一运行数据筛选集合和对应的第二运行数据筛选集合，其中，每一条所述芯片运行数据用于表征在一个时间段内所述目标芯片是否处于运行状态，所述第一运行数据筛选集合中包括的每一条所述芯片运行数据用于表征在一个时间段内所述目标芯片处于运行状态，所述第二运行数据筛选集合中包括的每一条所述芯片运行数据用于表征在一个时间段内所述目标芯片未处于运行状态；

对所述第一运行数据筛选集合包括的所述芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第一运行特征信息，并对所述第二运行数据筛选集合包括的所述芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第二运行特征信息；

基于所述第一运行特征信息和所述第二运行特征信息对所述目标芯片的使用寿命进行预测得到对应的寿命预测结果。

在一些优选的实施例中，在上述基于芯片检测的芯片寿命预测方法中，所述对所述第一运行数据筛选集合包括的所述芯片运行数据进行特征提取处理，得到对应的第一运行特征信息的步骤，包括：

针对所述第一运行数据筛选集合包括的每一条所述芯片运行数据，确定该芯片运行数据对应的时间段的长度，得到该芯片运行数据对应的时间段长度信息，并确定该芯片运行数据与前一条芯片运行数据对应的时间段之间的间隔，得到该芯片运行数据对应的时间间隔长度信息；

针对所述第一运行数据筛选集合包括的每一条所述芯片运行数据，基于该芯片运行数据对应的时间间隔长度信息，确定出与该时间间隔长度信息具有负相关关系的系数，得到该芯片运行数据对应的第一加权系数，其中，所述加权系数大于0、小于或等于1，且所述第一运行数据筛选集合中的第一条芯片运行数据对应的第一加权系数小于其它的每一条芯片运行数据对应的第一加权系数；