[发明专利]光学邻近修正方法及系统、掩膜版、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110988906.9 申请日: 2021-08-26
公开(公告)号: CN115903368A 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 杜杳隽 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36;G03F7/20
代理公司: 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 代理人: 高静
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种光学邻近修正方法及系统、掩膜版、设备及存储介质,光学邻近修正方法包括:提供目标图形;将目标图形的边分割为多个第一线段,包括两端点、位于两端点间的第一采样点;利用第一线段,对目标图形进行第一光学邻近修正处理,形成第一初始修正后图形、相应第一模拟图形;判断端点处,第一模拟图形的边缘放置误差是否达到修正标准;未达到修正标准时,在端点处设立第二采样点,在第二采样点两侧截取部分长度的第一线段平移至目标位置,构成第二线段,剩余第一线段作为第三线段,形成第二初始修正后图形;利用第二线段和第三线段,对第二初始修正后图形进行第二光学邻近修正处理,形成光罩图形。本发明提高光学邻近修正的效果。
搜索关键词: 光学 邻近 修正 方法 系统 掩膜版 设备 存储 介质
【主权项】:
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