[发明专利]半导体电路的测试系统和半导体电路的测试方法在审
| 申请号： | 202110988109.0 | 申请日： | 2021-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN113770066A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 左安超;谢荣才;王敏 | 申请（专利权）人： | 广东汇芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 深圳市辰为知识产权代理事务所(普通合伙) 44719 | 代理人： | 陈建昌 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种半导体电路的测试系统和半导体电路的测试方法，通过将信号发生设备与待测半导体电路的第一类输入引脚连接，且将检测控制设备与待测半导体电路的第一类输出引脚连接，对待测半导体电路进行IO端口测试；在待测半导体电路的IO测试数据满足预设测试条件之后，将信号发生设备与待测半导体电路的第二类输入引脚，检测控制设备与待测半导体电路的第二类输出引脚连接，对待测半导体电路的功能测试。通过先进行IO端口测试，即采用小电流、低电压测试初步筛选出异常样品，并保留样品失效原始形貌；再进行功能端口测试，即采用大电流、高电压测试半导体电路，从而能够避免功能测试时将异常样品二次破坏，防止功能测试过程损坏后的无法拦截。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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