[发明专利]一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法在审
| 申请号： | 202110971475.5 | 申请日： | 2021-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN113790686A | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 刘安 | 申请（专利权）人： | 苏州艾克瑞特仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02 |
| 代理公司： | 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 | 代理人： | 刘英 |
| 地址： | 215500 江苏省苏州市常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线测厚仪领域，且公开了一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法。该一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法，本发明通过精密可调电位器与准直器套筒高度调节旋钮通过带齿传动皮带相连接，可以换算出标准片表面和准直器套筒之间的间距l，从而得知标准片所接收的X射线强度；第二步，调节摄像头焦距，使得摄像头获得标准片最清晰图像，也就使得标准片处于摄像头的焦点处；第三步，在待测物载台放置待测物，调整待测物载台高度，使得待测物顶部表面处在可调焦距摄像头的焦点上，保证待测物顶部表面获得的X射线强度与第一步中的X射线强度相同，本发明结构简单，提高了测量物体镀层厚度的效率以及精准度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 照射 待测物 表面 强度 调校 方法 | ||
【主权项】：
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