[发明专利]一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法

说明书

本发明涉及X射线测厚仪领域，且公开了一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法。该一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法，本发明通过精密可调电位器与准直器套筒高度调节旋钮通过带齿传动皮带相连接，可以换算出标准片表面和准直器套筒之间的间距l，从而得知标准片所接收的X射线强度；第二步，调节摄像头焦距，使得摄像头获得标准片最清晰图像，也就使得标准片处于摄像头的焦点处；第三步，在待测物载台放置待测物，调整待测物载台高度，使得待测物顶部表面处在可调焦距摄像头的焦点上，保证待测物顶部表面获得的X射线强度与第一步中的X射线强度相同，本发明结构简单，提高了测量物体镀层厚度的效率以及精准度。

技术领域

本发明涉及X射线测厚仪领域，尤其涉及一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法。

背景技术

目前在X射线测厚仪领域，传统的技术一般都是采用激光测距或者红外测距来测定被测物与准直器之间的间距，以获得X射线照射到被测物表面的强度，但是传统技术的激光测距以及红外测距是通过直接将光线达到物体上，再通过物体反弹光线以及接受的方式对物体进行测量，此方式较为传统并且存在一定的误差，而本发明提供了一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法，以保证对X射线照射在待测物表面强度的调校效率以及精准度，保证对测量物体镀层厚度的效率以及精准度。为此，我们提出一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法。

发明内容

本发明主要是解决上述现有技术所存在的技术问题，提供一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案，一种新的X射线照射在待测物表面强度的调校方法，包括以下工作步骤：

第一步：待测物载台放置一个超薄标准片，调节准直器套筒高度调节旋钮，将准直器套筒高度调节旋钮固定到某一个位置，精密可调电位器与准直器套筒高度调节旋钮通过带齿传动皮带相连接，与准直器套筒高度调节旋钮一起转动，从精密可调电位器读出电阻值，可以换算出待测物载台和准直器套筒之间的间距，减去超薄标准片厚度，得到标准片表面与准直器套筒之间的间距l，从而得知标准片表面所接收的X射线强度；

第二步：调节可调焦距摄像头，使得待测物载台上标准片刚好在可调焦距摄像头的焦点上，此时从可调焦距摄像头屏幕上能看到标准片最清晰的图像，此时焦距与l形成一对一对应关系，由此对应关系，可以得出焦距与标准片表面接收的X射线强度形成一对一对应关系；

第三步：待测物置于待测物载台表面，旋转载台高度调节旋钮，使得待测物顶部处于可调焦距摄像头的焦点上，也就是使可调焦距摄像头屏幕看到的清晰的待测物顶部表面，由于待测物顶部表面处在可调焦距摄像头的焦点上，也是待测物顶部表面与摄像头之间的间距，和第二步中的可调焦距摄像头和标准片的间距l相同；因此，待测物顶部表面接收的X射线强度与第一步标准片表面接收的X射线强度相同；

第四步：按照相同的操作步骤，对其它待测物进行放置和调节矫正。

作为优选，所述第一步和第二步完成之后，此时的准直器套筒高度调节旋钮不可再调节，此时系统固定了待测物载台和准直器套筒之间的间距。

作为优选，所述准直器套筒高度调节旋钮不可再调节后，可调焦距摄像头的焦点不可再调节，此时固定了可调焦距摄像头与待测物载台之间的间距。

作为优选，所述待测物置于待测物载台表面，由于待测物高出待测物载台一些距离，因此，待测物顶部表面接收到的X射线强度是未知的，此时，可调焦距摄像头屏幕看到的待测物顶部由于不在焦点上，视频图像是模糊的。