[发明专利]一种基于双耦合器环行光路结构的微量光纤色散测量装置在审
| 申请号： | 202110941237.X | 申请日： | 2021-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN113804405A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 喻张俊;薛志锋;汪燚;杨军;徐鹏柏;温坤华;王云才;秦玉文 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510009 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于双耦合器环行光路结构的微量光纤色散测量装置，可用于色散系数小或长度短的光纤及器件的高精度色散测量，属于光纤测量技术领域。装置包括宽谱光源、干涉仪、双耦合器环路结构、探测模块和色散计算模块，其特征是：宽谱光源为干涉仪提供光源，双耦合器环路结构接入干涉仪的测量臂，通过调整参考臂的光程，可以获得带有色散信息的干涉信号，最后利用色散计算模块提取干涉信号中的色散信息。双耦合器环路结构一方面额外提供一个可以调节的功率耦合比例参数，另一方面在相同系统动态范围的情况下，该结构能够支持光波列更多的环行次数，进而提高色散测量精度。本发明解决了现有技术难以高精度测量光纤及其器件微量色散的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 耦合器 环行 结构 微量 光纤 色散 测量 装置 | ||
【主权项】：
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