[发明专利]一种基于双耦合器环行光路结构的微量光纤色散测量装置

权利要求书

1.一种基于双耦合器环行光路结构的微量光纤色散测量装置，其特征在于：宽谱光源(10)、干涉仪(20)、双耦合器环路结构(30)、探测模块(60)和色散计算模块(80)组成本装置，其中：

1)宽谱光源(10)发出的光注入到干涉仪(20)中，双耦合器环路结构(30)接入到干涉仪(20)，干涉仪(20)的输出光由探测模块(60)来探测，探测模块(60)探测到的干涉信号送到色散计算模块(80)中；

2)在双耦合器环路结构(30)中，光从第二耦合器第一输入端(311)注入到第二耦合器(31)中，分光后，一路从第二耦合器第二输出端(314)输出，另一路从第二耦合器第一输出端(313)输出，经待测光纤及器件(33)、第三耦合器第一输入端(321)注入到第三耦合器(32)，分光后一路从第三耦合器第二输出端(324)输出，另一路从第三耦合器第一输出端(323)输出并经第二耦合器第二输入端(312)注入到第二耦合器(31)，完成一次环行，再次环行按前述路径进行；

3)在色散计算模块(80)中，数据采集卡(81)采集来自探测模块(60)中的干涉信号，采集到的干涉信号经干涉峰截取单元(82)截取两个干涉峰，其中，第一干涉峰(885)输入到第一色散系数提取单元(83)进行色散系数提取，第二干涉峰(884)输入到第二色散系数提取单元(84)进行色散系数提取，两个干涉峰的色散系数输入到色散差分单元(85)进行差分运算，得到待测光纤及器件(33)的色散系数。

2.由权利要求1中所述的干涉仪(20)，其特征在于：光从第一耦合器第一输入端(211)注入到第一耦合器(21)，分成两路，一路经第一耦合器第二输出端(214)、双耦合器环路结构(30)和第四耦合器第二输入端(262)进入到第四耦合器(26)，其中，在双耦合器环路结构(30)中环行m次输出第m波包(251)，环行m+1次输出第m+1波包(252)，环行m+2次输出第m+2波包(253)；另一路经第一耦合器第一输出端(213)、参考光纤(22)、光程相关器(23)和第四耦合器第一输入端(261)进入到第四耦合器(26)；两路光在第四耦合器(26)合束。

3.由权利要求1所述的干涉仪(20)，其特征是：第一耦合器第二输出端(214)的长度为L₂₁₄、折射率为n，第四耦合器第二输入端(262)的长度为L₂₆₂、折射率为n，第一耦合器第一输出端(213)的长度为L₂₁₃，折射率为n，第四耦合器第一输入端(261)的长度为L₂₆₁、折射率为n，参考光纤(22)的长度为L₂₂、折射率为n，光程相关器(23)的最大延迟长度为ΔL_23(max)。

4.由权利要求1所述的双耦合器环路结构(30)，其特征是：第二耦合器第一输入端(311)的长度为L₃₁₁、折射率为n，第二耦合器第二输入端(312)的长度为L₃₁₂、折射率为n，第二耦合器第一输出端(313)的长度为L₃₁₃、折射率为n，第三耦合器第一输入端(321)的长度为L₃₂₁、折射率为n，第三耦合器第一输出端(323)的长度为L₃₂₃、折射率为n，第三耦合器第二输出端(324)的长度为L₃₂₄、折射率为n，待测光纤及器件(33)的长度为L₃₃、折射率为n₃₃。

5.由权利要求2所述的光程相关器(23)，其特征是：光可从第一准直透镜(231)进入并依次经过第一反射镜(233)、第二反射镜(234)、第二准直透镜(232)；光亦可从第二准直透镜(232)进入并依次经过第二反射镜(234)、第一反射镜(233)、第一准直透镜(231)；同时移动第一反射镜(233)与第二反射镜(234)，可以改变光路光程，其最大光程为：ΔL_23(max)。