[发明专利]一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法在审
| 申请号： | 202110936583.9 | 申请日： | 2021-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN113808266A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 尹川;徐鹏鹏;张鹏泉;耿友林;韦杜鹃;张忠海 | 申请（专利权）人： | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T17/05 | 分类号： | G06T17/05;G06F30/20 |
| 代理公司： | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人： | 陈炜 |
| 地址： | 310018 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法。传统的粗糙面辐射模型较为简单，在考虑粗糙面时仅仅将粗糙面当作高斯型粗糙面处理，忽略了指数型粗糙面存在的场景，即使用高斯型粗糙面模型来替代指数型粗糙面模型，这样处理的弊端在于无法准确模拟出具有指数型粗糙面场景的亮温，从而极大限制了被动毫米波辐射模拟的应用范围。本发明如下：一、提出指数型粗糙面的辐射特性模型。二、研究了高斯型粗糙面与指数型粗糙面的差异。三、计算了不同粗糙度的指数型粗糙面的亮温。四、比较了在不同粗糙度下高斯型粗糙面与指数型粗糙面的亮温差。本发明完善了粗糙面成像场景，提高了在粗糙面场景下成像的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 针对 指数 粗糙 成像 方法 | ||
【主权项】：
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