[发明专利]一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法在审
| 申请号: | 202110936583.9 | 申请日: | 2021-08-16 |
| 公开(公告)号: | CN113808266A | 公开(公告)日: | 2021-12-17 |
| 发明(设计)人: | 尹川;徐鹏鹏;张鹏泉;耿友林;韦杜鹃;张忠海 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号: | G06T17/05 | 分类号: | G06T17/05;G06F30/20 |
| 代理公司: | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 陈炜 |
| 地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 新型 针对 指数 粗糙 成像 方法 | ||
1.一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法,其特征在于:步骤一、对被探测场景进行物理建模,得到被探测场景的三维虚拟模型;
步骤二、对步骤一得到的三维虚拟模型进行剖分;
步骤三、将三维虚拟模型中属于林地、山峰、沙地的被测表面视为指数型粗糙面,其余被测表面视为高斯型粗糙面,进行射线追踪;
步骤四、在射线追踪部分结束后,从每一根射线的终端将亮温反演至发射源点,获得被探测场景中不同位置的亮温,形成亮温图。
2.根据权利要求1所述的一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法,其特征在于:利用gmsh软件在步骤一中进行物理建模,以及在步骤二中进行剖分。
3.根据权利要求1所述的一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法,其特征在于:步骤二中,剖分的单元格为四面体。
4.根据权利要求1所述的一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法,其特征在于:步骤三所述的射线追踪是从辐射计发射端向外发射射线;对于任意一根射线,对第一层射线沿反射方向追踪的同时,将射线与入射面的交点作为散射点向四周进行散射。
5.根据权利要求1所述的一种新型的针对指数型粗糙面的亮温成像方法,其特征在于:在对于视为指数型粗糙面的被测表面的射线追踪中,以封闭面为边界的无源区内任意点的散射场的数学表达式如式(1-1)所示;
式(1-1)中,为任意点无源场的散射场;为代求场点位置;j为虚数单位;ks为电磁波在介质中传播的波数,其值用介质一中的波数k1替代;为散射方向的单位矢量;为边界面的法向量的单位矢量;ηs为介质的阻抗,其值使用介质一的阻抗η1替代;R0为场点和观测点之间的距离;为总的切向电磁场,其表达式如式(1-2)和(1-3)所示;
式(1-2)和(1-3)中,为单位极化向量;为入射方向的单位矢量;是水平极化的菲涅尔反射系数;R//是垂直极化的菲涅尔反射系数;E0为入射电磁波的场强;
将式(1-1)、(1-2)和(1-3)联立,建立介质一中的散射场如式(1-4)所示:
对式(1-4)求近似解如式(2)所示:
式(2)中,Q为相位因子,k1为介质一中的波数,为散射方向的单位矢量,为入射方向的单位矢量,为源点位置,qx、qy、qz分别是x、y、z轴方向上的相位分量;qx、qy、qz的表达式如式(3)所示;
式(3)中,θs为散射方向的俯仰角,θi为入射方向的俯仰角,为散射方向的方位角,为入射方向的方位角;分别为x轴,y轴,z轴的方向向量;
将式(2)和式(3)代入式(1-4)中,将散射电场表达式表示为:
式(4)中,为散射方向的单位矢量,为入射方向的单位矢量,为边界面的法向量的单位矢量,ks为电磁波在介质中传播的波数,R0为场点和观测点之间的距离,η1为介质的阻抗;
建立垂直极化,平行极化以及交叉极化的散射场如式(5)所示;
式(5)中,q为相位因子,为平行极化散射场,为垂直极化散射场,和为交叉极化散射场,是水平极化的菲涅尔反射系数,R//是垂直极化的菲涅尔反射系数,是散射水平波的单位极化分量,是散射垂直波的单位极化分量,是入射水平波的单位极化分量,是入射垂直波的单位极化分量,为散射方向的单位矢量,为入射方向的单位矢量;Uhh、Uvh、Uhv、Uvv的表达式如式(6)所示:
式(6)中,是水平极化的菲涅尔反射系数,R//是垂直极化的菲涅尔反射系数;
介质一中的双基地散射系数表示为公式(7):
式(7)中,Upq用于代入前述的Uhh、Uvh、Uhv、Uvv;k1为介质一中的波数,σ为粗糙面的均方根高度,qx、qy、qz的表达式如式(8)所示:
指数型粗糙面的高低起伏相关系数G(R)的表达式如式(9)所示;
G(R)=σ2exp(-|R|/l) 式(9)
式(9)中,R为指数型粗糙面两点之间的距离;l为粗糙面的相关长度;
粗糙面高低起伏相关系数在0处的二阶微商ρ″(0)的表达式如式(10)所示;
建立的表达式如式(11)所示:
通过公式(6)、(7)、(8)、(10)、(11)求出视为指数型粗糙面的被测表面的双基地散射系数。
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