[发明专利]一种集成电路测试设备在审

专利信息
申请号: 202110882719.2 申请日: 2021-08-02
公开(公告)号: CN113406482A 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 孙业国;刘义红;李玲;刘磊;董红祥 申请(专利权)人: 淮南师范学院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京久维律师事务所 11582 代理人: 邢江峰
地址: 232038 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明属于测试设备技术领域,具体的说是一种集成电路测试设备,包括控制器、测试箱、移动平台、卡盘、传送孔、传送杆、传送块、转动杆、连接杆、滑动块和滑动槽;所述测试箱一侧与卡盘相对应的位置处开设有传送孔;所述传送孔的前后两端均滑动连接有传送杆;所述卡盘与传送杆相对应的位置处固定连接有传送块;所述传送杆与传送块卡合,每个传送杆远离卡盘的一侧均铰接有转动杆;每个所述转动杆靠近卡盘的一侧固定连接有滑动块,两个转动杆之间固定连接有连接杆;所述传送块下端与滑动块相对应的位置开设有滑动槽;本发明解决了为防止空气中的颗粒物对检测过程的影响,检测过程在面积较大的清洁室内进行,从而清洁控制难度较大的问题。
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 设备
【主权项】:
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