[发明专利]封装结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110858670.7 申请日: 2021-07-28
公开(公告)号: CN114068594A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 张简上煜;徐宏欣 申请(专利权)人: 力成科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 宋兴;臧建明
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种封装结构及其制造方法,所述封装结构包括第一芯片、第二芯片、模封体、阻挡结构、透光片、导电连接件、线路层以及导电端子。第一芯片包括第一有源面。第一有源面具有感测区。第二芯片以其第二背面面向第一芯片的方式配置。模封体覆盖第二芯片。模封体具有第一模封面及第二模封面。阻挡结构位于第一模封面上且暴露出感测区。透光片位于阻挡结构上。导电连接件贯穿模封体。线路层位于第二模封面上。第一芯片经由导电连接件及线路层电连接第二芯片。导电端子配置于线路层上。
搜索关键词: 封装 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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