[发明专利]一种片上系统的老化检测系统及其检测方法在审
| 申请号: | 202110841487.6 | 申请日: | 2021-07-26 |
| 公开(公告)号: | CN113504448A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
| 发明(设计)人: | 黄乐天;刘丰瑞;赵天津 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学长三角研究院(湖州) |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人: | 李林合 |
| 地址: | 313001 浙江省湖州市西塞*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种片上系统的老化检测系统及其检测方法,所述片上系统的老化检测系统包括多个传感器接口、数据传输模块和系统接口,所述传感器接口用于读取所述片上系统的多个传感器中的电路老化信息,并将所述老化信息通过数据传输模块传输至所述系统接口,所述系统接口对所述老化信息进行处理后传输至系统总线。本发明所提供的片上系统的老化检测系统及其检测方法,能够结合电路老化的实际情况,得到适于芯片实际运行时的老化状态检测结果。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 系统 老化 检测 及其 方法 | ||
【主权项】:
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