[发明专利]一种片上系统的老化检测系统及其检测方法在审
| 申请号: | 202110841487.6 | 申请日: | 2021-07-26 |
| 公开(公告)号: | CN113504448A | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
| 发明(设计)人: | 黄乐天;刘丰瑞;赵天津 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学长三角研究院(湖州) |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人: | 李林合 |
| 地址: | 313001 浙江省湖州市西塞*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 系统 老化 检测 及其 方法 | ||
1.一种片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述片上系统的老化检测系统包括多个传感器接口、数据传输模块和系统接口,所述传感器接口用于读取所述片上系统的多个传感器中的电路老化信息,并将所述老化信息通过数据传输模块传输至所述系统接口,所述系统接口对所述老化信息进行处理后传输至系统总线。
2.根据权利要求1所述的片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述老化信息构造为数据包。
3.根据权利要求2所述的片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述系统接口包括数据包校验模块、数据包解包模块、写地址通道和写数据通道,所述数据包包括尾微片,所述数据包校验模块用于对所述尾微片中的数据进行缓存及校验,并将校验过后的正确的数据包传递给所述数据包解包模块,所述数据包解包模块用于将所述正确的数据包解析后分别通过所述写地址通道和所述写数据通道传输至所述系统总线。
4.根据权利要求3所述的片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述系统接口还包括写响应通道和控制状态机,所述系统总线的反馈信息通过所述写响应通道传输至所述控制状态机,所述控制状态机用于对所述反馈信息进行分析并将所述分析结果传输至所述数据包解包模块。
5.根据权利要求3所述的片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述数据包还包括头微片和至少一个体微片,所述头微片、所述体微片和所述尾微片的最高两位值表示微片类型,所述头微片的第三位表示所述数据包类型,其低位用于承载所述传感器的地址信息,所述体微片的低位用于承载所述传感器的数据信息,所述尾微片的低位用于承载所述传感器的数据信息的校验码。
6.根据权利要求1所述的片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述数据传输模块包括多层路由器集,每层所述路由器集包括多个路由器。
7.根据权利要求1-6中任意一项所述的片上系统的老化检测系统,其特征在于,所述系统接口通过AXI Master总线接口模块与所述系统总线连接。
8.一种基于权利要求1-7中任意一项所述的片上系统的老化检测系统的检测方法,其特征在于,所述检测方法包括:
S1:读取所述片上系统的多个传感器中的电路老化信息,并将所述老化信息通过数据传输模块传输至所述系统接口;
S2:对所述老化信息进行处理后传输至所述系统总线。
9.根据权利要求8所述的片上系统的老化检测系统的检测方法,其特征在于,所述步骤S2包括以下分步骤:
S21:对数据包进行数据包缓存和尾微片校验,并将校验过后的正确的数据包传递给所述数据包解包模块;
S22:将所述正确的数据包解析后分别通过写地址通道和写数据通道传输至所述系统总线,其中,所述写地址通道用于提取所述数据包中的地址信息,所述写数据通道用于转换所述数据包中的数据格式。
10.根据权利要求8所述的片上系统的老化检测系统的检测方法,其特征在于,在所述步骤S2之后,所述检测方法还包括:
S3:将所述系统总线的反馈信息通过写响应通道传输至控制状态机;
S4:分析所述反馈信息,得到分析结果;
S5:根据所述反馈结果判断是否需要重新上传所述数据包,若是返回入步骤S2,否则结束数据传输。
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