[发明专利]一种传感器单晶硅刻蚀装置的送气机构在审

专利信息
申请号: 202110829412.6 申请日: 2021-07-22
公开(公告)号: CN113690124A 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 吴秀敏 申请(专利权)人: 吴秀敏
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510080 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种传感器单晶硅刻蚀装置的送气机构,其结构包括刻蚀腔、调节钮、排气管、弯管、送气管,刻蚀腔上连接有排气管和送气管,送气管之间设置有弯管,且连接有调节钮,弯管包括保护套筒、收缩套、助力组件、管体,管体连接在送气管上,且其内部连接有保护套筒,保护套筒上连接有收缩套,收缩套之间设置有助力组件,在助力组件上设置有集合装置和扭旋架,利用集合装置和扭旋架在滑轨内相配合,当气流沿弯管的径向呈发散状进入下一管体中,将会推动集合装置逐渐向下收拢,带动扭旋架转动来引导气流集中向下,控制气流内外圈流速大小,避免气流变动过大。
搜索关键词: 一种 传感器 单晶硅 刻蚀 装置 送气 机构
【主权项】:
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