[发明专利]一种误差标定方法及装置、存储介质有效
| 申请号： | 202110826070.2 | 申请日： | 2021-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN113281726B | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 王抒昂;李双双;刘德珩 | 申请（专利权）人： | 武汉市聚芯微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 蒋雅洁;张颖玲 |
| 地址： | 430270 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种误差标定方法及装置、存储介质，方法包括：控制标定板与飞行时间TOF模组在预设间隔距离内相对运动；测量运动期间TOF模组与标定板间的至少一个实际距离，并获取每个实际距离下TOF模组测量到的与标定板的距离，得到至少一个第一测量距离；控制TOF模组与标定板间达到预设间隔距离，并采用延迟锁相环技术对TOF模组进行测量延时控制；确定测量延时控制下模拟出的TOF模组与标定板间的至少一个模拟距离，并获取每个模拟距离下TOF模组测量到的与标定板的距离，得到至少一个第二测量距离；利用至少一个实际距离、至少一个第一测量距离、至少一个模拟距离，以及至少一个第二测量距离，对TOF模组进行误差标定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 误差 标定 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉市聚芯微电子有限责任公司，未经武汉市聚芯微电子有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110826070.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
