[发明专利]一种MEMS封装结构及其制作方法在审
申请号: | 202110807607.0 | 申请日: | 2021-07-16 |
公开(公告)号: | CN113526453A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 蔺光磊 | 申请(专利权)人: | 芯知微(上海)电子科技有限公司 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81B7/02;B81C1/00 |
代理公司: | 北京思创大成知识产权代理有限公司 11614 | 代理人: | 张立君 |
地址: | 201600 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种MEMS封装结构及其制作方法,器件晶圆,所述器件晶圆包括相对的第一表面和第二表面,MEMS芯片,所述MEMS芯片键合于所述器件晶圆上,所述MEMS芯片上形成有MEMS器件和位于所述MEMS器件外侧的第一密封结构和第一焊垫;所述器件晶圆上形成有第二密封结构和第二焊垫,所述第一焊垫和第二焊垫之间形成有电镀的导电凸块。通过在所述器件晶圆的表面设置有第一密封结构与第一焊垫,且在MEMS芯片的表面设置第二焊垫与第二密封结构,且第一密封结构与第二密封结构相结合,形成密封结构,使MEMS芯片在与器件晶圆相结合时,保证了其密封性,可以达到各个传感元件的高效连通,同时可以从封装单个器件提升到晶圆级封装的水平,有利于器件的性能和长期稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 mems 封装 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
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