[发明专利]一种晶圆级封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202110807588.1 申请日: 2021-07-16
公开(公告)号: CN113540064A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 蔺光磊 申请(专利权)人: 芯知微(上海)电子科技有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/48;H01L23/367;H01L23/552;H01L21/50
代理公司: 北京思创大成知识产权代理有限公司 11614 代理人: 张立君
地址: 201600 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种晶圆级封装结构及封装方法,包括:器件晶圆,器件晶圆包括相对的第一表面和第二表面,以及在器件晶圆中形成有多个第一芯片、凹槽和导电互连结构;多个第二芯片,第二芯片键合于器件晶圆的第一表面并覆盖凹槽形成密闭的空腔;金属导电层,位于器件晶圆的第一表面,并通过导电互连结构与第一芯片电连接;绝缘层,形成在器件晶圆上,并覆盖金属导电层、第二芯片以及第二芯片露出的器件晶圆;屏蔽层,形成在绝缘层上,并覆盖绝缘层。本发明通过在晶圆的上表面设有金属导电层,金属导电层和芯片电连接和与外部电路电连接,用于电信号的输入和输出,可缩短电传导路径和热传导路径,降低电阻和热耗,提高传热效率,散热效率高。
搜索关键词: 一种 晶圆级 封装 结构 方法
【主权项】:
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