[发明专利]一种晶圆级封装结构及封装方法在审
申请号: | 202110807588.1 | 申请日: | 2021-07-16 |
公开(公告)号: | CN113540064A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 蔺光磊 | 申请(专利权)人: | 芯知微(上海)电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L25/16 | 分类号: | H01L25/16;H01L23/48;H01L23/367;H01L23/552;H01L21/50 |
代理公司: | 北京思创大成知识产权代理有限公司 11614 | 代理人: | 张立君 |
地址: | 201600 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种晶圆级封装结构及封装方法,包括:器件晶圆,器件晶圆包括相对的第一表面和第二表面,以及在器件晶圆中形成有多个第一芯片、凹槽和导电互连结构;多个第二芯片,第二芯片键合于器件晶圆的第一表面并覆盖凹槽形成密闭的空腔;金属导电层,位于器件晶圆的第一表面,并通过导电互连结构与第一芯片电连接;绝缘层,形成在器件晶圆上,并覆盖金属导电层、第二芯片以及第二芯片露出的器件晶圆;屏蔽层,形成在绝缘层上,并覆盖绝缘层。本发明通过在晶圆的上表面设有金属导电层,金属导电层和芯片电连接和与外部电路电连接,用于电信号的输入和输出,可缩短电传导路径和热传导路径,降低电阻和热耗,提高传热效率,散热效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶圆级 封装 结构 方法 | ||
【主权项】:
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