[发明专利]带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备在审

专利信息
申请号: 202110785189.X 申请日: 2021-07-12
公开(公告)号: CN115618915A 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 郭征;李坤 申请(专利权)人: 广州视琨电子科技有限公司
主分类号: G06M1/272 分类号: G06M1/272;G01D21/00
代理公司: 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 代理人: 林伟斌;欧秋望
地址: 510700 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备,其中生产测试方法包括:在测试程序运行开始前,获取MES系统所存储的治具上的测试部件的累计测试次数;判断所获取的累计测试次数是否大于或等于测试次数限值;如是,则锁定测试程序;如否,则运行测试程序,控制测试部件进行逐次测试;获取测试部件进行逐次测试的测试次数,或者,获取根据测试部件所进行的逐次测试进行更新后的累计测试次数;在测试程序运行结束后,将测试次数或所更新的累计测试次数上传至MES系统,以更新MES系统所存储的累计测试次数。本发明可以解决治具上的测试部件累计测试次数很难被有效统计而无法及时更换测试部件的问题,提升产品良品率和产品质量。
搜索关键词: 带治具 损耗 统计 生产 测试 方法 系统 存储 介质 设备
【主权项】:
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