[发明专利]带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备在审

专利信息
申请号: 202110785189.X 申请日: 2021-07-12
公开(公告)号: CN115618915A 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 郭征;李坤 申请(专利权)人: 广州视琨电子科技有限公司
主分类号: G06M1/272 分类号: G06M1/272;G01D21/00
代理公司: 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 代理人: 林伟斌;欧秋望
地址: 510700 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 带治具 损耗 统计 生产 测试 方法 系统 存储 介质 设备
【权利要求书】:

1.一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,包括:

在测试程序运行开始前,获取MES系统所存储的治具上的测试部件的累计测试次数;

判断所获取的所述累计测试次数是否大于或等于测试次数限值;

如是,则锁定所述测试程序;

如否,则运行所述测试程序,控制所述测试部件进行逐次测试;

获取所述测试部件进行逐次测试的测试次数,或者,获取根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数;

在所述测试程序运行结束后,将所述测试次数或所更新的所述累计测试次数上传至所述MES系统,以更新所述MES系统所存储的累计测试次数。

2.根据权利要求1所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,获取根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数,具体包括:

在采用所述测试部件进行第一次测试时,将所获取的所述累计测试次数发送至计数器,以使所述计数器将所述累计测试次数作为当前计数,所述计数器在所述测试部件每进行一次测试后,将当前计数加1作为新的当前计数;

在采用所述测试部件进行最后一次测试时,获取所述计数器的当前计数作为根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数。

3.根据权利要求1所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,获取根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数,具体包括:

在采用所述测试部件进行第一次测试时,将所获取的所述累计测试次数发送至计数器,以使所述计数器将所述累计测试次数作为当前计数,所述计数器在触发开关每被触发一次后,将当前计数加1作为新的当前计数;所述触发开关在每采用所述测试部件进行一次测试时被触发一次;

在采用所述测试部件进行最后一次测试时,获取所述计数器的当前计数作为根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数。

4.根据权利要求1所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,获取所述测试部件进行逐次测试的测试次数,具体包括:

在采用所述测试部件进行第一次测试时,将所获取的所述累计测试次数发送至计数器,以使所述计数器将所述累计测试次数作为当前计数;所述计数器在触发开关每被触发一次后,将当前计数加1作为新的当前计数;所述触发开关在每采用所述测试部件进行一次测试时被触发一次;

统计所述触发开关被触发的次数作为所述测试部件进行逐次测试的测试次数。

5.根据权利要求2至4任一项所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,在控制所述测试部件进行一次测试之后、下一次测试之前,还包括:

接收所述计数器对所述新的当前计数是否大于或等于所述测试次数限值的判断结果,或者,从所述计数器获取所述新的当前计数并判断所述新的当前计数是否大于或等于所述测试次数限值,生成判断结果;

如所述判断结果为是,则锁定所述测试程序;

如所述判断结果为否,则继续运行所述测试程序,并控制采用所述测试部件进行下一次测试。

6.根据权利要求3或4所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,在所述触发开关被触发一次之后、被触发下一次之前,还包括:

显示触发所述治具上的触发开关的提示。

7.根据权利要求1至4任一项所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法,其特征在于,在锁定所述测试程序之后,还包括:

生成需要更换所述测试部件的警示。

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