[发明专利]一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法有效

专利信息
申请号: 202110733603.2 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113435050B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 童小华;陈鹏;高飒;谢欢;刘世杰;金雁敏;冯永玖;叶真;柳思聪;王超 申请(专利权)人: 同济大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06T15/00;G06T7/70;G06F17/11
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 杨宏泰
地址: 200092 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法,该方法基于折射定理对介质面位置进行补偿,具体为:获取各介质的折射率和厚度,根据入射角度计算的介质面位置补偿值,并得到虚拟介质面作为新介质面将多介质成像解析模型转换为双介质成像解析模型与现有技术相比,本发明具有可行性高、稳定性号、精度达到亚毫米级等优点。
搜索关键词: 一种 水下 介质 位置 补偿 成像 解析 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同济大学,未经同济大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110733603.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top