[发明专利]一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法

权利要求书

1.一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，该方法基于折射定理对介质面位置进行补偿，具体为：

获取各介质的折射率和厚度，根据入射角度计算的质面位置补偿值，并得到虚拟介质面作为新介质面将多介质成像解析模型转换为双介质成像解析模型。

2.根据权利要求1所述的一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，根据斯涅尔定律获得各介质面处入射角与出射角的对应关系，并根据正弦定理和三角函数关系得到入射角、出射角与介质面位置补偿值和介质厚度之间的关系。

3.根据权利要求2所述的一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，当介质沿入射方向依次为空气、玻璃和水时，介质面位置补偿值的计算式为：

其中，dl为介质面位置补偿值，即虚拟介质面与空气-玻璃介质面之间的距离，d为玻璃的厚度，θ₁为空气-玻璃介质面的入射角，θ₂为空气-玻璃介质面的出射角，θ₃为玻璃-水介质面的出射角。

4.根据权利要求3所述的一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，根据介质面位置补偿值得到虚拟介质面的方程为：

其中，A、B、C分别为虚拟介质面方程系数。

5.根据权利要求1所述的一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，所述的介质面位置补偿值仅与入射角和介质厚度相关，对于多层介质，根据介质类型和介质厚度构建查找表。

6.根据权利要求5所述的一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，对于海量高速影像序列的处理中，每个目标点的入射角度均不一致的情况，对构建的查找表进行线性插值或三次卷积插值，使得每一个目标点都有对应的介质面位置补偿值。

7.根据权利要求1所述的一种水下介质面位置补偿的多介质成像解析方法，其特征在于，该方法水下点位测量精度到达亚毫米级。