[发明专利]老化电路板，老化测试结构及方法有效
| 申请号： | 202110719903.5 | 申请日： | 2021-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN113438799B | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 张亚光 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;H05K1/18;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 衡滔 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请提供一种老化电路板，老化测试结构及老化测试方法，该老化电路板具有第一表面及第二表面，第一表面与第二表面相背设置；第一表面设置有第一连接区，第一连接区设置有第一连接垫，第一连接垫用于连接第一芯片；第二表面设置有第二连接区，第二连接区设置有第二连接垫，第二连接垫用于连接第二芯片；老化电路板内部具有信号连接结构，第一连接垫与第二连接垫通过信号连接结构实现信号连接。本申请通过老化电路板内部的信号连接结构实现第一连接垫与第二连接垫的信号连接，且第一连接垫及第二连接垫分别用于连接第一芯片及第二芯片，由此有助于对第一芯片与第二芯片之间的互联功能进行验证。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 电路板 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
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