[发明专利]制造UV辐射检测器器件的方法以及UV辐射检测器器件在审
申请号: | 202110693664.0 | 申请日: | 2021-06-22 |
公开(公告)号: | CN113903825A | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | S·拉斯库纳;G·贝洛基;P·巴达拉;I·克鲁皮 | 申请(专利权)人: | 意法半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 董莘 |
地址: | 意大利阿格*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开的实施例涉及制造UV辐射检测器器件的方法以及UV辐射检测器器件。用于检测UV辐射的器件,包括:具有N掺杂的SiC衬底;具有N掺杂的SiC漂移层,SiC漂移层在衬底之上延伸;阴极端子;以及阳极端子。阳极端子包括:具有P掺杂的掺杂阳极区,掺杂阳极区在漂移层中延伸;以及包括一个或多个富碳层,特别是石墨烯和/或石墨层的欧姆触点区,欧姆触点区在掺杂阳极区中延伸。欧姆触点区对于待检测的UV辐射透明。 | ||
搜索关键词: | 制造 uv 辐射 检测器 器件 方法 以及 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于意法半导体股份有限公司,未经意法半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110693664.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:开关器件、系统及对应的方法
- 下一篇:用于音频输出设备的智能路由
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的