[发明专利]电子部件处理装置及电子部件试验装置在审
| 申请号： | 202110690329.5 | 申请日： | 2021-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN114035009A | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 新井良知;竹内佳贵;菊池裕之 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 王刚;龚敏 |
| 地址： | 日本国东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够实现运转率的提高和占有空间的缩小的电子部件处理装置。对DUT(200)进行处理的电子部件处理装置(10)具备分别安装与测试器(7)连接的测试头(5A～5D)的多个接触单元(60A～60D)，各个接触单元(60A～60D)能够与其他接触单元(60A～60D)独立地调整DUT(200)的温度，并且能够向设置于测试头(5A～5D)的插座(6)按压DUT(200)，电子部件处理装置(10)构成为能够增设或减设接触单元(60A～60D)。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 处理 装置 试验装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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