[发明专利]一种短沟道ZnO薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110687353.3 申请日: 2021-06-21
公开(公告)号: CN113506831A 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 刘昌;李思哲;吴昊;陈雪 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/45;H01L21/34
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 邱云雷
地址: 430072*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请涉及短沟道ZnO薄膜晶体管及其制备方法,该制备方法包括如下步骤:在真空、惰性气体保护条件下,于第一温度下,在导电衬底上依次沉积栅绝缘层和ZnO沟道层;对所述ZnO沟道层进行光刻,以形成ZnO沟道结构,得到第一结构;对第一结构进行光刻,并依次蒸镀金属附着层和金属覆盖层,以形成源漏双层电极,得到短沟道ZnO薄膜晶体管,所述短沟道ZnO薄膜晶体管的沟道长度L为2nm~3μm。本申请制造出来的ZnO薄膜晶体管具有短沟道,从而降低了ZnO薄膜晶体管的尺寸,同时具备高性能,可以用于驱动Micro‑LED。
搜索关键词: 一种 沟道 zno 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
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