[发明专利]基于星载ADS-B和AIS的全球电离层电子总含量测量方法在审
| 申请号： | 202110684739.9 | 申请日： | 2021-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN113567758A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 陈利虎;罗坳柏;赵勇;陈小前;余孙全;李松亭;倪久顺 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京奥文知识产权代理事务所(普通合伙) 11534 | 代理人： | 张文 |
| 地址： | 410073 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于星载ADS‑B和AIS的全球电离层电子总含量测量方法，包括：在卫星上布置两个信号接收机，在两个信号接收机上分别安装能够接收ADS‑B信号的第一线极化接收天线，和/或能够接收AIS信号的第二线极化接收天线，且两个信号接收机上安装的第一线极化接收天线相互垂直，第二线极化接收天线也相互垂直；接收ADS‑B信号或AIS信号，计算同一个接收信号的功率信息；计算接收信号的极化角；计算接收信号发生法拉第旋转前的极化平面与预先选定的信号接收机上安装的第一线极化接收天线或第二线极化接收天线的垂直面的夹角；计算法拉第旋转角；计算全球电离层电子总含量。本发明能够实现全球电离层电子总含量的全天时和全天候监测，无需布设大量的测量基站。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ads ais 全球 电离层 电子 含量 测量方法 | ||
【主权项】：
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