[发明专利]单载波射频性能测试方法、装置和计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 202110682863.1 | 申请日： | 2021-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN113438040B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 温坚;郑志煜 | 申请（专利权）人： | 深圳松诺技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15;H04B17/17 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 刘冰 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种单载波射频性能测试方法、装置和计算机可读存储介质，单载波射频性能测试方法包括：在接收到待测试设备发送的单载波信号时，获取单载波信号对应的信号参数，其中，待测试设备基于本端发送的测试配置信息触发发送单载波信号；将信号参数与预设参数比较，在信号参数满足预设参数时，确定待测试设备的射频性能测试成功。通过基于单载波信号对密封产品进行射频性能测试，使得测试过程简单，从而缩短了测试周期，继而提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 载波 射频 性能 测试 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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