[发明专利]单载波射频性能测试方法、装置和计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种单载波射频性能测试方法、装置和计算机可读存储介质，单载波射频性能测试方法包括：在接收到待测试设备发送的单载波信号时，获取单载波信号对应的信号参数，其中，待测试设备基于本端发送的测试配置信息触发发送单载波信号；将信号参数与预设参数比较，在信号参数满足预设参数时，确定待测试设备的射频性能测试成功。通过基于单载波信号对密封产品进行射频性能测试，使得测试过程简单，从而缩短了测试周期，继而提高了测试效率。

技术领域

本申请涉及设备测试领域，尤其涉及一种单载波射频性能测试方法、装置和计算机可读存储介质。

背景技术

随着物联网智能家居行业的飞速发展，消费类电子产品竞争越发激烈，产品品质要求愈发愈严格。为满足消费者诉求，具备射频功能的终端设备在生产时，需要先进行射频测试，射频测试合格后才能出厂，以保证终端设备的射频功能良好。

但对于带物联网功能的球泡灯、钨丝灯等需要密封、灌胶、超声的电子产品，仅在PCBA阶段进行射频测试是远远不够的，组装过程的变化(如高温、震动)会极大的影响成品的射频性能，PCBA的良品经过组装后，成品较大可能会出现完全无信号或信号极弱现象，故此需对此类成品进行射频测试。而现有密封类产品的射频测试过程繁琐，导致测试周期长，从而使密封类产品的射频测试效率低。

发明内容

本申请实施例通过提供一种单载波射频性能测试方法、装置和计算机可读存储介质，旨在解决密封类产品的射频测试效率低的问题。

为实现上述目的，本申请一方面提供一种单载波射频性能测试方法，应用于测试装置，所述测试装置与待测试设备连接，所述方法包括：

在接收到待测试设备发送的单载波信号时，获取所述单载波信号对应的信号参数，其中，所述待测试设备基于本端发送的测试配置信息触发发送单载波信号；

将所述信号参数与预设参数比较，在所述信号参数满足所述预设参数时，确定所述待测试设备的射频性能测试成功。

可选地，所述在接收到待测试设备发送的单载波信号时，获取所述单载波信号对应的信号参数的步骤之前，包括：

在检测到所述待测试设备的第一无线接入点时，根据所述第一无线接入点与所述待测试设备建立通信链路；

根据所述通信链路向所述待测试设备发送测试配置信息，以触发所述待测试设备发送单载波信号。

可选地，所述在检测到所述待测试设备的第一无线接入点时，根据所述第一无线接入点与所述待测试设备建立通信链路的步骤之前，包括：

当检测到所述待测试设备时，在预设时间间隔内向所述待测试设备发送多次充电信号和断电信号，以使所述待测试设备进入扫描模式，根据所述扫描模式扫描周围的第二无线接入点，并基于所述第二无线接入点建立所述第一无线接入点。

可选地，所述在检测到所述待测试设备的第一无线接入点时，根据所述第一无线接入点与所述待测试设备建立通信链路的步骤之前，还包括：

向所述待测试设备发送查询指令，根据所述待测试设备响应的查询结果确定所述待测试设备是否支持单载波配置；

在所述待测试设备支持单载波配置时，确定所述待测试设备支持配置的单载波信息；

根据所述待测试设备支持配置的单载波信息配置所述待测试设备的测试配置信息。

为实现上述目的，本申请一方面提供一种单载波射频性能测试方法，应用于待测试设备，所述方法包括：

接收测试装置基于第一无线接入点发送的测试配置信息；

根据所述测试配置信息发送单载波信号，以使所述测试装置根据所述单载波信号对待测试设备进行射频性能测试。