[发明专利]一种基于迭代加权L1范数的受损阵列天线方向图修复方法有效
| 申请号： | 202110667801.3 | 申请日： | 2021-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN113420431B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 廖成;柏果;程友峰;彭樊 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 成都东恒知盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51304 | 代理人： | 罗江 |
| 地址： | 610000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于迭代加权L1范数的受损阵列天线方向图修复方法，包括如下步骤：S1、获得阵列天线的原始激励以及受损单元的位置和个数，将受损单元的激励置0；S2、计算出阵列天线的原始方向图以及部分单元受损后的实际方向图，设置修复目标参数，包括最大旁瓣电平和主瓣波束范围；S3、利用迭代加权L1范数优化算法，对剩余完好单元进行激励补偿迭代优化直至满足迭代结束条件，达到目标修复效果，得到修复后的阵列方向图函数。本发明方法可以应用于直线阵列与平面阵列的方向图修复，并且相比于传统的阵列修复算法，在修复效果、修复复杂度、修复时间上均有较强的优势，因此本方法在实际应用中有十分突出的工程应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 加权 l1 范数 受损 阵列 天线方向图 修复 方法 | ||
【主权项】：
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