[发明专利]按指定级配孔隙率生成均质土样的离散元土样制备方法在审
| 申请号： | 202110662128.4 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN113361116A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 曹军;王康宇;李伟杰;陈振寰;陈泽敏;方伶聪;陈钧 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F111/10;G06F119/14 |
| 代理公司： | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人： | 王兵 |
| 地址： | 310014 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 按指定级配空隙率生成均质土样的离散元土样制备方法，包括步骤1：确定颗粒数目，确定根据级配曲线的控制点分区段确定颗粒数目；步骤2单层制样：首先将试样按高度进行分层，通过步骤1按指定级配和孔隙率确定一层的颗粒数目，然后按两层的尺寸生成六面墙，通过移动上下两面墙来压实颗粒；步骤3替换分层处颗粒：首先将步骤2确定的多层试样进行组装，为了消除组装后层与层之间的分层现象，将上下两层之间的颗粒删除，复制下层中间颗粒来进行替换，之后运行足够的步数使颗粒运动平衡。步骤4施加重力和摩擦力：通过步骤3得到所需尺寸的试样后，最后施加重力和摩擦力，运行足够的步数使土体在重力的作用下沉降固结。本发明可以按指定级配和孔隙率快速制得均质离散元土样，计算效率高，能很好的模拟现实土体情况。 | ||
| 搜索关键词： | 指定 孔隙率 生成 均质土样 离散 元土样 制备 方法 | ||
【主权项】：
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