[发明专利]一种微测辐射热计的三层像元结构有效

专利信息
申请号: 202110655660.3 申请日: 2021-06-11
公开(公告)号: CN113390513B 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 冯睿;安宁;孙芳魁;丁卫强;曹永印 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01J5/48 分类号: G01J5/48;G01J5/24
代理公司: 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 代理人: 王新雨
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种微测辐射热计的三层像元结构,包括光吸收层、热敏层、电极层及其衬底。光吸收层与热敏层之间形成光学谐振腔,通过中空桥柱相连,减小微桥热容。热敏层将热敏电阻层最大化增加对红外透过光的吸收率,电极层将电极桥腿从两端弯曲摆布,增加桥腿的长度,减少热导。热敏层与电极层上下均铺有钝化层,电极桥腿分别与热敏电阻层和衬底相连,实现电学连通和热学连通。本发明在兼顾时间响应常数的同时,具有较高的红外吸收率和较低的热导,有效提高了像元的温升,具有更高的温度响应率和热灵敏度。
搜索关键词: 一种 辐射热 三层 结构
【主权项】:
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