[发明专利]FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质有效
| 申请号： | 202110644106.5 | 申请日： | 2021-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN113376514B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 张家华;刘伟;刘乐;魏寅;曾岩;赵海洋;孔晓琳;李安平 | 申请（专利权）人： | 深圳米飞泰克科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 龙欢 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例适用于芯片测试技术领域，提供一种FPGA芯片测试方法、装置、系统及计算机可读存储介质。方法包括：根据测试项目向配置芯片发送配置数据，以使配置芯片将配置数据烧入被测FPGA芯片，配置芯片设置在自动测试设备上；向自动测试设备发送测试激励数据，接收来自自动测试设备的测试响应结果。本申请通过设置在自动测试设备上的配置芯片，根据测试项目将配置数据发送到被测FPGA芯片，克服了现有自动测试设备不具备芯片配置功能的问题，无需制作FPGA芯片测试板，可随时通过测试软件向被测FPGA芯片发送配置信息，无需反复上下电插拔测试板，为FPGA芯片测试节省大量配置时间，提升测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | fpga 芯片 测试 方法 装置 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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