[发明专利]一种薄膜测厚仪

摘要

本发明公开了一种薄膜测厚仪,包括主箱体，主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，主箱体上端面还固定连接有两个位于标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，本发明通过量程放大杆带动金属触头抵接于弧形金属杆上的不同位置，使指针转动腔指向对应数值，从而方便的使用者观察度数，同时通过量程放大杆的杠杆作用，即使薄膜厚度发生较小的改变，使用者也能从指针转动腔上观察到薄膜厚度较为明显的变化，可绕量程放大杆转动的测厚滚柱座，使得薄膜表面的凸起或凹陷能通过滚柱检测到，并且可同时驱动标记块向下碰触薄膜，从而标记薄膜凸起位置，方便后续的修补作业。