[发明专利]一种薄膜测厚仪

说明书

本发明公开了一种薄膜测厚仪,包括主箱体，主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，主箱体上端面还固定连接有两个位于标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，本发明通过量程放大杆带动金属触头抵接于弧形金属杆上的不同位置，使指针转动腔指向对应数值，从而方便的使用者观察度数，同时通过量程放大杆的杠杆作用，即使薄膜厚度发生较小的改变，使用者也能从指针转动腔上观察到薄膜厚度较为明显的变化，可绕量程放大杆转动的测厚滚柱座，使得薄膜表面的凸起或凹陷能通过滚柱检测到，并且可同时驱动标记块向下碰触薄膜，从而标记薄膜凸起位置，方便后续的修补作业。

技术领域

本发明涉及测厚仪相关技术领域，具体为一种薄膜测厚仪。

背景技术

薄膜测厚仪，一种用于测量量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料厚度的仪器，其中机械接触式薄膜测量仪因其结构简单，价格便宜而被应用的较为广泛，但是目前的机械接触式测量仪一般只具备测量薄膜厚度的功能，其无法很好的检测薄膜表面的平整度，若薄膜表面不平整有凸起或凹陷等瑕疵，则薄膜厚度测量结果也会因其受到影响。

发明内容

本发明的目的在于提供一种薄膜测厚仪，用于克服现有技术中的上述缺陷。

根据本发明的一种薄膜测厚仪，包括主箱体，所述主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧所述标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，所述主箱体上端面还固定连接有两个位于所述标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，所述主箱体设有开口向上的传送带腔，所述传送带腔前端壁内转动配合连接有左右对称且向后延伸贯穿所述传送带腔至所述传送带腔后端壁内的带轮，所述带轮上转动配合连接有位于所述传送带腔内的带轮轴，左右侧所述带轮轴之间动力配合连接有薄膜传送带，所述传送带腔后侧设有与所述主箱体固定连接且位于右侧所述带轮后侧的电机，右侧所述带轮固定于所述电机前端面。

进一步的技术方案，左右所述测厚箱体固定块之间设置有分别与前侧所述测厚箱体固定块后端面以及后侧所述测厚箱体固定块前端面固定连接的测厚箱体，所述测厚箱体内设有开口向右的放大杆转动腔，所述放大杆转动腔前后端壁之间固定连接有放大杆转动轴，所述放大杆转动轴上转动配合有位于所述放大杆转动腔内且向右延伸至外界的量程放大杆，所述放大杆转动腔上下端壁之间固定连接有位于所述量程放大杆左侧的弧形金属杆，所述量程放大杆左端面固定连接有与所述弧形金属杆抵接的金属触头，所述量程放大杆上端面与所述放大杆转动腔上端壁之间固定有复位弹簧。

进一步的技术方案，所述测厚箱体内设有位于所述放大杆转动腔左侧且开口向左的指针转动腔，所述量程放大杆右侧末端转动配合有测厚滚柱座，所述测厚滚柱座内设有触点开关滑动腔，所述量程放大杆贯穿所述触点开关滑动腔，所述触点开关滑动腔内滑动配合有与所述量程放大杆螺纹配合连接的螺纹滑块，所述测厚滚柱座左端壁内转动配合有向右延伸贯穿所述触点开关滑动腔至外界的精度调整轴，所述精度调整轴右侧末端固定有精度调整盘，所述精度调整轴上螺纹配合连接有两个与所述触点开关滑动腔滑动配合连接且以所述螺纹滑块为中心左右对称的触点开关，所述测厚滚柱座下端面固定连接有滚柱底座，所述滚柱底座内转动配合有能够与所述薄膜传送带外表面抵接的滚柱。

进一步的技术方案，所述指针转动腔后侧设有磁铁固定腔，所述磁铁固定腔左端壁内转动配合有向左延伸至所述指针转动腔内向右延伸至所述磁铁固定腔内的导电轴，所述导电轴左侧末端固定有指针转动腔，所述导电轴上转动配合有固定与所述磁铁固定腔左端壁内的导电环，所述磁铁固定腔上下端壁上均固定连接有以所述导电轴为中心上下对称的磁铁，所述导电轴右端面与所述磁铁固定腔右端壁之间固定有复位扭簧。

进一步的技术方案，所述标记块底座内设有开口向内的标记块滑动腔，所述标记块滑动腔上端壁上固定连接有标记电磁铁，前侧所述标记块滑动腔内滑动配合连接向后延伸至后侧所述标记块滑动腔内且与后侧所述标记块滑动腔滑动配合连接的磁性滑动座，所述磁性滑动座下端面固定有标记块，所述标记电磁铁与所述磁性滑动座之间固定有标记块弹簧。