[发明专利]一种光学器件的表面缺陷光检接触头

摘要

本发明涉及检测设备技术领域，且公开了一种光学器件的表面缺陷光检接触头，包括固定滑道，所述固定滑道的下方设置有滑动块，所述滑动块内贯穿设置有行程丝杆，所述滑动块的下方活动连接有固定架，所述固定架的中部与滑动块间活动连接有限位架，所述固定架的下端设置有发射器，所述固定架的左侧设置有定位墙，所述定位墙的下端设置有接收器。该光学器件的表面缺陷光检接触头，通过在挤压头压力下，因斜面作业对固定架产生向上推力，使其沿着限位架活动槽道一定程度活动，实现对固定架下端设置的发射器进行微调，控制精度的同时，增加了垂直行程丝杆方向上的自由度，保证可对各类器件的表面检测，同时保证核心方向上的行程稳定。