[发明专利]一种光学器件的表面缺陷光检接触头在审

专利信息
申请号: 202110447358.9 申请日: 2021-04-25
公开(公告)号: CN113008800A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 孙永财 申请(专利权)人: 孙永财
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/95
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 152500 黑*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 器件 表面 缺陷 接触
【说明书】:

发明涉及检测设备技术领域,且公开了一种光学器件的表面缺陷光检接触头,包括固定滑道,所述固定滑道的下方设置有滑动块,所述滑动块内贯穿设置有行程丝杆,所述滑动块的下方活动连接有固定架,所述固定架的中部与滑动块间活动连接有限位架,所述固定架的下端设置有发射器,所述固定架的左侧设置有定位墙,所述定位墙的下端设置有接收器。该光学器件的表面缺陷光检接触头,通过在挤压头压力下,因斜面作业对固定架产生向上推力,使其沿着限位架活动槽道一定程度活动,实现对固定架下端设置的发射器进行微调,控制精度的同时,增加了垂直行程丝杆方向上的自由度,保证可对各类器件的表面检测,同时保证核心方向上的行程稳定。

技术领域

本发明涉及检测设备技术领域,具体为一种光学器件的表面缺陷光检接触头。

背景技术

镜面等光学设备对表面粗糙度等性能参数要求极高,即使是微小的表面瑕疵,在经过多次反射和折射后也会被放大,在结果上反映出极大的偏差,因此,光学设备在加工过程中,需要多次对其表面缺陷进行检测。但常见的接触式表面检测头可能会在器件表面留下划痕或污渍,造成不必要的缺陷,因此普遍采用光学检测,通过计算反射角变化或光程变化以表征器件表面性能,但现有的光学测头大多为实验室设计,在工业生产中因振动,行程不稳等造成的波动等使光检头汰换周期过短,使得光检成本过高。

发明内容

(一)解决的技术问题

依智能制造发展要求,针对现有技术的不足,本发明提供了一种光学器件的表面缺陷光检接触头,具备行程稳定的优点,解决了上述背景技术中的问题。

(二)技术方案

为实现上述行程稳定的目的,本发明提供如下技术方案:一种光学器件的表面缺陷光检接触头,包括固定滑道,所述固定滑道的下方设置有滑动块,所述滑动块内贯穿设置有行程丝杆,所述滑动块的下方活动连接有固定架,所述固定架的中部与滑动块间活动连接有限位架,所述固定架的下端设置有发射器,所述固定架的左侧设置有定位墙,所述定位墙的下端设置有接收器,所述固定架的右侧设置有辅助架,所述辅助架的中部设置有升降槽,所述升降槽内设置有推杆,所述推杆的左端活动连接有挤压头,所述辅助架的右端设置有垫板,所述垫板的右侧设置有减震座,所述减震座的下端设置有同步轮,所述减震座的上端设置有控制柱,所述控制柱的外部套接有斜面盘,所述斜面盘的上下两侧设置有两个升降柱,所述控制柱的上端活动连接有连接件。

优选的,所述滑动块的上端设置有卡槽与固定滑道适配,下端设置有弹簧与固定架活动连接,其内部设置有簧珠与行程丝杆适配。

优选的,所述固定架左侧设置有校准平板与定位墙对应面平行设置,右侧设置有斜筋板,筋板上设置有与限位架适配的贯穿槽。

优选的,所述发射器沿固定架上筋板方向设置,与接收器对应,校准后与固定架保持固定连接。

优选的,所述接收器接收面朝下,其左侧设置有遮光罩。

优选的,所述辅助架上设置有垂直的分度尺,其上设置的槽道与升降槽适配。

优选的,所述挤压头通过弹簧与推杆活动连接,其左端设置有接触球头与固定架筋板侧面的槽适配。

优选的,所述升降柱位于斜面盘下侧的与减震座上端活动连接,位于斜面盘上侧的与连接件下端活动连接。

优选的,所述连接件右侧设置有接触面与升降柱连接,左侧设置有连杆与升降槽连接。

(三)有益效果

与现有技术相比,本发明提供了一种光学器件的表面缺陷光检接触头,具备以下有益效果:

1、该光学器件的表面缺陷光检接触头,固定架的中部与滑动块间活动连接有限位架,滑动块本身可带动下方固定架沿行程丝杆方向进行位置调节,以增加自由度,方便在实际生产中控制测头位置。

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