[发明专利]基于复合失效模式耦合的IGBT寿命预测方法及系统有效
| 申请号： | 202110425367.8 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN113239653B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 何怡刚;李猎;何鎏璐;王晨苑;熊元新;王枭 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367;G01R31/26;G06F111/08;G06F119/02;G06F119/04;G06F119/08 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 张宇 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于复合失效模式耦合的IGBT寿命预测方法及系统，首先计算键合引线与焊料层的联立失效概率模型；然后计算联立失效概率模型的期望并记作耦合作用下的寿命；建立耦合函数关系式；预测焊料层与键合引线各自的寿命；建立不考虑耦合作用的IGBT寿命预测模型；建立考虑耦合作用的IGBT寿命预测模型。本发明能对焊料层与键合引线耦合作用下的IGBT模块进行更准确的寿命预测。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 复合 失效 模式 耦合 igbt 寿命 预测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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