[发明专利]基于Miner理论的IGBT模块老化表征方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110424633.5 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN113125928A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 何怡刚;李猎;何鎏璐;熊元新;王枭;张慧 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G06F30/20;G06F119/04
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 张宇
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于Miner理论的IGBT模块老化表征方法及系统,首先建立以结温波动Tjm与平均结温ΔTj为输入的寿命预测模型;然后使用红外测温仪测量IGBT模块的芯片结温数据;记录每个功率循环结温波动Tjm与平均结温ΔTj;在每个循环进行一次寿命预测;将每个循环对应的预测寿命取倒数并相加,得到IGBT模块老化表征参数D。本发明能更恰当的表征IGBT的老化程度,具有变化趋势单调递增、分辨率高的优点。
搜索关键词: 基于 miner 理论 igbt 模块 老化 表征 方法 系统
【主权项】:
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