[发明专利]一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法有效

专利信息
申请号: 202110387375.8 申请日: 2021-04-10
公开(公告)号: CN113281629B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 杨洪文;王艳;阮国成;牟雪芹 申请(专利权)人: 深圳市永而佳实业有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市光*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及二极管检测设备技术领域,尤其是涉及一种发光二极管阵列检测装置及其使用方法,包括工作台、承载架、安装架、检测架、控制单元以及固设于工作台内的检测器,承载架上固设有多个呈排列布置的发光二极管,工作台上设有用于驱动承载架沿水平纵向移动的纵向驱动组件,工作台上设有用于驱动安装架沿水平横向移动的横向驱动组件,检测器的检测探头固设于检测架上,安装架上设有用于驱动检测架沿竖向往复移动以令检测探头与发光二极管相接触的竖向驱动组件,控制单元分别与横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件电连接且用于控制横向驱动组件、纵向驱动组件以及竖向驱动组件进行动作。本申请能够提高发光二极管的检测效率。
搜索关键词: 一种 发光二极管 阵列 检测 装置 及其 使用方法
【主权项】:
暂无信息
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